SAK光谱共焦传感器 ---透明及多层材料,镜面之位移厚度解决方案 ---非接触精准量测各种材质SAK彩色光谱共焦传感器是一种精度可达次微纳米量级的非接触式位移量测系统, 可精准测量漫反射/镜面反射及透明多层材质的位移,厚度,也适合深孔/盲孔工件等运用。
SAK光谱共焦传感器原理
利用特制的彩色编码镜头使可见光产生轴向色散输出,并经由光谱解析器解析共焦回传光波讯号,zui后透过波长与位移转换曲线计算出工件位移量测值。
SAK光谱共焦传感器优于传统测试
优势及特点
稳定量测各类材质,例如金属/陶瓷/镜面/玻璃等
适用于各种形貌(包含深孔/斜面/弧面)之特征尺寸量测,例如高度/段差/厚度/平面度/轮廓度等。
高温高压等严苛操作条件下亦能适应正常使用。
测头结构轻巧,易整合于各行业之自动化测量应用。
结构轻巧且内部不含电子零件而不受环境干扰影响。
*多层材质量测算法,可量测透明/半透明多层材质间之厚度或间隙。
应用领域及案例
规格参数
型号 | GP- 20- D2 | GP- 40- D4 | GP- 60- D6 |
量程范围 | 2 [mm] | 4 [mm] | 6 [mm] |
工作距离 | 18±1 [mm] | 33±2 [mm] | 55±3 [mm] |
分辨率 * 1 | 0.05 [μm] | 0.2 [μm] | 0.1 [μm] |
线性度 * 2 | ±0.25 [ m] | ±2 [μm] | ±0.5 [μm] |
光点直径 * 3 | 25 [μm] | 40 [μm] | 45 [μm] |
zui大倾角 * 4 | ±22 [deg] | ±7[deg] | ±11[ deg] |
测头尺寸( ΦxL) | Φ34x78.4 [mm] | Φ15x55[mm] | Φ33x75 [mm] |
测头重量 | 105 [g] | N/A [g] | N/A [g] |
防护等级 | IP40 | IP40 | IP40 |
控制器 | GP-CON |
光源 | LED |
控制器尺寸( LxH) | 96x136x136 [mm] |
控制器重量 | 1.65[kg] |
额定电压 | 24[VDC] |
传输接口 | RS-232: 115,200bps Ethernet: 100BASE-TX/10BASE-T |
防护等级 | IP20 |
测量周期 | 5 ~ 65 [ms] |
光纤延长线 | GP- F |
长度 | 2 / 5 / 10 [m] |
重量 | 23/ 40 / 69 [g] |
zui小折弯半径 * 5 | 50 [mm] |
环境条件 | |
操作温度 | 5~40 [°C] |
环境湿度 | 35~80 [%] |
环境照度 | < 10,000 [lx] |
其他 | 其他量程规格将陆续提供 |
夹置具 | 可客制化 |
* 1. 分辨率: 针对静止工件于量程中心零点平均10次之噪声大小程度(开启光强自动调节及10次平均功能)
* 2. 线性度: 针对镜面标准件于校准后进行满量程量测时之zui大误差值(开启光强自动调节及10次平均功能)
* 3. 光点直径: 量程中心之理论光斑直径值。
* 4. zui大倾角: 指镜面全反射材质工件下之zui大可接收光讯号角度, 一般漫反射工件可达±80度。
* 5. zui小折弯半径: 光纤卷曲收纳时可接受之zui小曲率半径, 低于此值易于折断毁损。